核容放电试验通常持续数小时，期间每隔一段时间记录一次全部单体电压和整组参数，一次完整试验可以产生数百到数千条数据记录。怎么存储、怎么查询、怎么导出，是影响实际使用效率的重要细节。
两种存储模式
HZFD-200支持内部存储和SD卡外部存储，用户可以选择其中一种或同时启用。
内部存储
数据保存在仪器内置存储器中，存储间隔由仪器根据总试验时长自动分配（不需要手动设置）。内部存储最多可保存5～10组完整的试验数据（在线监测和放电试验各自独立计数）。
超过上限后，新数据会覆盖最旧的数据。因此，内部存储适合临时查看和短期保存，不适合长期归档——试验结束后应及时将数据导出。
SD卡外部存储
SD卡存储可以设置数据保存间隔，最短5秒记录一次（高密度记录适合关注电压变化细节的分析场景）。SD卡最多可保存999组数据，满足大量试验的长期归档需求。
SD卡文件名格式包含完整的试验信息：功能代码-机房号-电池串号-电池编号-日期时间，例如：
在线监测数据：J0001-01-150112135048.CFJ
放电测试数据：F0001-01-150112135048.CFJ
文件名包含日期时间（后14位：年月日时分秒），归档后任意时间能精确定位到具体的试验记录，不依赖额外的纸质台账。
数据管理操作
在仪器的"数据管理"界面，可以对历史数据进行：
查看详细数据和曲线图（整组电压曲线、单体电压曲线）
逐条删除或全部删除
将选中的记录导出到SD卡（"Export"）或一键导出全部（"Exp-All"）
注意：图形数据（曲线）要求试验时长超过1分钟才能显示，低于1分钟的短暂测试只有数值记录没有图形。